證券之星訊息，根據天眼查APP資料顯示艾為電子（688798）新獲得一項發明專利授權，專利名為“電容檢測方法及裝置、晶片、電子裝置和計算機儲存介質”，專利申請號為CN202511352010.6，授權日為2026年7月28日電子。
專利摘要：本申請涉及一種電容檢測方法及裝置、晶片、電子裝置和計算機儲存介質，涉及感測器技術領域電子。所述電容檢測方法包括：根據待測電容的檢測波形配置所述待測電容的校準波形；其中，所述檢測波形和所述校準波形的誤差在預設誤差範圍內；對所述待測電容施加校準波形，以獲取初始電容補償值；對所述待測電容施加檢測波形，並根據所述初始電容補償值獲取多個初始電容測量值；在多個所述初始電容測量值達到穩態的情況下，根據多個所述初始電容測量值和所述初始電容補償值，確定所述待測電容的目標電容補償值；其中，所述目標電容補償值用於對所述待測電容的檢測過程進行補償。本申請能夠提升電容檢測精度。
今年以來艾為電子新獲得專利授權65個，較去年同期增加了124.14%電子。結合公司2025年年報財務資料，2025年公司在研發方面投入了5.68億元，同比增11.59%。
透過天眼查大資料分析，上海艾為電子技術股份有限公司共對外投資了15家企業，參與招投標專案7次；財產線索方面有商標資訊306條，專利資訊1292條，著作權資訊143條；此外企業還擁有行政許可10個電子。
資料來源電子：天眼查APP
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